Edevis LITe

Erweitert Ihre Fähigkeiten mit jeder Flir A-Serie richtige Lock-In Thermografie zu betreiben

Das edevis LITE System bietet kosteneffiziente Lock In Thermografie für präzise zerstörungsfreie Prüfungen. Es ermöglicht zuverlässige Fehlerdetektion und eignet sich ideal für Einstieg, Forschung und industrielle Qualitätskontrolle.

Technische Highlights

Lock‐In‐Thermografie für höchste Empfindlichkeit
Temperaturauflösung im μK‐Bereich
Varianten S und M für unterschiedliche Auflösungsanforderungen

User Highlights

✓ Präzise Fehlerlokalisierung in Elektronik & Solarzellen
✓ Ideal für Entwicklungs‐ & Laborumgebungen
✓ Hohe Flexibilität & einfache Integration

Auf Anfrage

Anwendungsgebiete:

Elektroindustrie
Automobil & Luftfahrt
Elektronikentwicklung
Forschung und Entwicklung
Universitäten und Hochschulen

Das edevis LITE ist ein kompaktes System für Lock In Thermografie und wurde entwickelt, um zerstörungsfreie Prüfverfahren effizient und wirtschaftlich zugänglich zu machen. Es eignet sich besonders für Anwendungen, bei denen präzise Analysen mit moderatem Aufwand realisiert werden sollen.

Das System nutzt modulierte Anregung, um thermische Antwortsignale im Material zu erzeugen. Diese werden mit einer Infrarotkamera erfasst und ausgewertet. Dadurch können Defekte sichtbar gemacht werden, die mit konventionellen Methoden nicht erkennbar sind.

Ein wesentlicher Vorteil des edevis LITE liegt in seiner Benutzerfreundlichkeit. Das System ist einfach zu bedienen und ermöglicht einen schnellen Einstieg in die Lock In Thermografie. Gleichzeitig bietet es eine zuverlässige Messgenauigkeit für viele Anwendungen.

Typische Anwendungsbereiche sind:

• Zerstörungsfreie Prüfung von Materialien

• Qualitätskontrolle in der Produktion

• Forschungsanwendungen

• Ausbildung und Schulung

Die kompakte Bauweise erleichtert die Integration in bestehende Arbeitsumgebungen. Das System kann flexibel eingesetzt werden und benötigt nur wenig Platz.

Die Software unterstützt eine klare Darstellung und Analyse der Messergebnisse. Anwender können Defekte schnell identifizieren und dokumentieren.

Das edevis LITE ist eine effiziente Lösung für Lock In Thermografie im Einstieg und in der Praxis. Es kombiniert einfache Bedienung mit zuverlässiger Messleistung und unterstützt präzise Prüfprozesse.

Technische Eigenschaften und Leistungsmerkmale dieses Produkts.

Spezifikation	Wert
Prüfverfahren	Zerstörungsfreie Prüfung (NDT)
Thermografie-Methode	Lock-In-Thermografie
Empfindlichkeitssteigerung	mK auf µK
Systemaufbau	Modulares Erweiterungssystem
Komponenten	Software + Anregungsmodul + Funktionsgenerator
Kompatibilität	Kompatibel mit FLIR A-Serie und weiteren FLIR Kameras
Detektionsprinzip	Analyse von thermischem Verhalten und Wärmefluss
Reflexionsunterdrückung	Unterdrückung von Materialreflexionen
Messbereich	Detektion von Leistungen im µW-Bereich
Anwendungsbereich	Halbleiter / Elektronik / Photovoltaik / Leiterplatten