Yokogawa AQ2300 Serie
Modulare Testplattform der nächsten Generation
Technische Highlights
- Flexibles System mit 3‐ oder 9‐Slot Frames
- Bis zu 100 k Messpunkte pro Kanal
- Entwickelt für Photonik, Halbleiter, Glasfaser und optische Kommunikation
User Highlights
- ✓ Optische und elektrische Messungen kombinierbar
- ✓ Hohe Testgeschwindigkeit
- ✓ Maximale Flexibilität
Anwendungsgebiete:
- Elektrotechnik und Elektronik
- Forschung und Entwicklung
- Prüfstände und Testsysteme
Die Yokogawa AQ2300 Series ist eine modulare Testplattform für optische Messanwendungen, die höchste Flexibilität und Präzision vereint. Sie wurde für anspruchsvolle Aufgaben in der Forschung, Entwicklung sowie in der Produktion optischer Systeme konzipiert.
Das System basiert auf einem modularen Konzept, bei dem verschiedene Messmodule wie Lichtquellen und Leistungsmesser kombiniert werden können. Diese Architektur ermöglicht es, die Plattform exakt auf spezifische Anforderungen zuzuschneiden und bei Bedarf jederzeit zu erweitern.
Die AQ2300 Series bietet präzise und stabile Messergebnisse, die für die Charakterisierung und Prüfung optischer Komponenten unverzichtbar sind. Durch die zentrale Steuerung lassen sich Messabläufe automatisieren und reproduzierbare Ergebnisse sicherstellen. Dies erhöht die Effizienz und reduziert Fehlerquellen.
Ein weiterer Vorteil liegt in der einfachen Integration in bestehende Testumgebungen. Die Plattform unterstützt standardisierte Schnittstellen und Softwarelösungen, wodurch sie sich nahtlos in automatisierte Prozesse einfügt.
Typische Anwendungsbereiche:
• Prüfung optischer Komponenten und Systeme
• Forschung und Entwicklung in der Photonik
• Produktionsprüfung in der Telekommunikation
• Automatisierte Testumgebungen
Die Yokogawa AQ2300 Series bietet eine zukunftssichere Lösung für optische Messaufgaben. Ihre Kombination aus Modularität, Präzision und Integrationsfähigkeit macht sie zu einem zentralen Werkzeug für moderne optische Testprozesse.
Technische Eigenschaften und Leistungsmerkmale dieses Produkts.
| Spezifikation | Wert |
|---|---|
| Produkttyp | Digitales Source Measure Unit (SMU) System |
| Messfunktion | Source- und Messfunktion (V/I) |
| Kanäle | modular bis 2 Kanäle pro Einheit bzw. skalierbar im System |
| Messbereich Spannung | Spannungsmessbereich modellabhängig bis ±100 V |
| Messbereich Strom | Strommessbereich modellabhängig bis nA bis A Bereich |
| Auflösung | hohe Auflösung bis pA/mV Bereich modellabhängig |
| Genauigkeit | sehr hohe Präzision im ppm-Bereich modellabhängig |
| Abtastrate | schnelle Messzyklen bis kHz Bereich modellabhängig |
| Schnittstellen | GPIB/RS232/USB/LAN modellabhängig |
| Anwendung | Halbleitercharakterisierung / Batterietests / F&E und Produktionstestanlagen |
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