FLIR X8580

Hochauflösende MWIR-Kamera in wissenschaftlicher Qualität

Die FLIR X8580 bietet ultraschnelle Hochleistungs-Thermografie mit Quantendetektor. Sie kombiniert höchste Bildraten, exzellente Empfindlichkeit und präzise Analyse für anspruchsvollste Anwendungen in Forschung, Entwicklung und Highspeed Messungen.

Technische Highlights

R&D
Auflösung: 1280 x 1024
17 mm, 25 mm, 50 mm, 100 mm, 200 mm

User Highlights

✓ Extrem flexibel: MWIR (InSb) & LWIR (SLS) Varianten verfügbar
✓ Erweiterte Trigger‑ & Sync‑Architektur für präzise Testabläufe
✓ Professionelle Datenintegration & Optikvielfalt

Auf Anfrage

Anwendungsgebiete:

Forschung und Entwicklung
Elektronikentwicklung
Universitäten und Hochschulen
Industrieanlagen und Produktion
Instandhaltung

Die FLIR X8580 ist eine High End Infrarotkamera mit Quantendetektor, die für ultraschnelle thermische Analysen entwickelt wurde. Sie ermöglicht extrem hohe Bildraten und erfasst schnelle Temperaturveränderungen mit höchster Präzision. Damit eignet sie sich ideal für dynamische Prozesse und zeitkritische Messungen.

Die Kamera liefert hochauflösende Infrarotbilder mit exzellenter thermischer Empfindlichkeit. Selbst kleinste Temperaturunterschiede können erkannt und detailliert dargestellt werden. Dies ermöglicht eine präzise Analyse komplexer thermischer Vorgänge in Forschung und Industrie.

Ein entscheidender Vorteil der FLIR X8580 ist ihre Fähigkeit zur Highspeed Datenerfassung. Schnelle thermische Ereignisse können ohne Informationsverlust aufgezeichnet werden. Dadurch lassen sich Prozesse analysieren, die mit herkömmlichen Systemen nicht erfassbar sind.

Typische Anwendungsbereiche sind:

• Highspeed Thermografie in Forschung und Entwicklung

• Analyse schneller thermischer Prozesse

• Untersuchung elektronischer und mechanischer Systeme

• Prozessoptimierung in Industrieanwendungen

Die Integration in bestehende Messsysteme erfolgt über professionelle Schnittstellen und Softwarelösungen. Dies ermöglicht automatisierte Auswertungen und eine effiziente Datenverarbeitung.

Die robuste Konstruktion sorgt für stabile Leistung auch unter anspruchsvollen Bedingungen. Gleichzeitig ermöglicht die intuitive Bedienung einen schnellen Einstieg in komplexe Messaufgaben.

Die FLIR X8580 ist die optimale Lösung für Anwendungen mit höchsten Anforderungen an Geschwindigkeit und Präzision. Sie liefert exakte thermische Daten und unterstützt fundierte Analyseprozesse.

Technische Eigenschaften und Leistungsmerkmale dieses Produkts.

Spezifikation	Wert
Gerätetyp	High‑Speed MWIR Forschungskamera (X‑Series / InSb)
IR Auflösung	1280 × 1024 Pixel
Detektortyp	Gekühlter InSb‑Detektor
Spektralbereich	ca. 1.5–5.0 µm (optional 3.0–5.0 µm)
Detektor Pitch	12 µm
Thermische Empfindlichkeit NETD	~30 mK
Bildfrequenz	bis ca. 181 Hz (Full Frame, bis ~6’000 Hz Subwindow)
Integration Time	ab ca. 270 ns bis Full Frame
Temperaturmessbereich	ca. −20 °C bis 300–350 °C (optional bis ~3000 °C)
Schnittstellen	10 GigE / CoaXPress / Camera Link / HDMI / SDI / USB