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Thermografie / Universitäten und Hochschulen

FLIR X6980 SLS

LWIR-Hochgeschwindigkeitskameras für wissenschaftliche Zwecke

Die FLIR X6980 SLS liefert hochpräzise Highspeed Thermografie mit Quantendetektor. Sie ermöglicht extrem schnelle Bildraten und höchste Empfindlichkeit für detaillierte Analysen dynamischer Prozesse in Forschung und Entwicklung.

Technische Highlights

R&D
Auflösung: 640 x 512
17 mm, 25 mm, 50 mm, 100 mm, 200 mm

User Highlights

✓ Optimiert für extrem schnelle, grossbandige thermische Ereignisse
✓ On‐Camera‐Recording: bis zu 95.000 Full‐Frame‐Frames + 4 TB SSD
✓ Maximale Integrationsfähigkeit in wissenschaftliche Testumgebungen

Auf Anfrage

Anwendungsgebiete:

Industrieanlagen und Produktion
Forschung und Entwicklung
Elektroindustrie
Automobil & Luftfahrt

Die FLIR X6980 SLS ist eine Highspeed Infrarotkamera mit Quantendetektor, die speziell für anspruchsvolle thermische Analysen entwickelt wurde. Sie kombiniert hohe Bildraten mit exzellenter thermischer Empfindlichkeit und ermöglicht damit präzise Messungen schnell ablaufender Prozesse.

Durch die Short Wave Technologie des Quantendetektors eignet sich die Kamera besonders für Anwendungen mit hohen Temperaturen und schnellen Veränderungen. Sie liefert detailreiche Infrarotbilder und ermöglicht eine exakte Analyse thermischer Ereignisse, die mit herkömmlichen Systemen nur schwer erfassbar sind.

Ein zentraler Vorteil der FLIR X6980 SLS ist ihre Fähigkeit zur extrem schnellen Datenerfassung. Selbst kurzzeitige thermische Effekte können vollständig aufgezeichnet und ausgewertet werden. Dies eröffnet neue Möglichkeiten in Forschung und Entwicklung.

Typische Anwendungsbereiche sind:

• Highspeed Thermografie und Prozessanalyse

• Untersuchung schneller Temperaturveränderungen

• Materialforschung und Analyse

• Entwicklung elektronischer Hochleistungssysteme

Die Integration in bestehende Messsysteme wird durch professionelle Schnittstellen unterstützt. Daten können effizient erfasst, verarbeitet und analysiert werden. Dies erleichtert die Umsetzung komplexer Messaufgaben.

Die robuste Bauweise sorgt für eine stabile Leistung auch unter intensiven Einsatzbedingungen. Gleichzeitig ermöglicht die flexible Konfiguration eine Anpassung an unterschiedliche Anwendungen.

Die FLIR X6980 SLS ist eine leistungsfähige Lösung für hochdynamische thermische Analysen. Sie liefert präzise Ergebnisse und unterstützt die Entwicklung innovativer Technologien.

Technische Eigenschaften und Leistungsmerkmale dieses Produkts.

Spezifikation	Wert
Gerätetyp	High‑Speed LWIR Forschungskamera (X‑Series / SLS)
IR Auflösung	640 × 512 Pixel
Detektortyp	Gekühlter SLS‑Quantendetektor (Strained Layer Superlattice)
Spektralbereich	ca. 7.5–12 µm
Detektor Pitch	25 µm
Thermische Empfindlichkeit NETD	~40 mK
Bildfrequenz	bis ca. 1004 Hz (Full Frame, >29’000 Hz Subwindow)
Integration Time	ab ca. 270 ns bis Full Frame
Temperaturmessbereich	ca. −20 °C bis 300–350 °C (optional bis ~3000 °C)
Schnittstellen	10 GigE / CoaXPress / Camera Link / HDMI / SDI / USB